荧光发射光谱仪原理来电咨询

荧光寿命分析仪——荧光光谱法的应用

直接测定法应用于测定许多有机芳族化合物和生物物质具有内在的荧光性质。间接测定法用于测定本身不发荧光或者因荧光量子产率很低而无法进行直接测定的物质的荧光性质。同步荧光分析法是提高分析选择性，解决多组分荧光物质同时测定的良好手段之一，***早发展起来的恒波长同步荧光法在一般的荧光光谱仪上均可方便实现，已在环境、卫生和生物等领域获得广泛的应用，而新近发展的各种新型同步荧光方法正显示出独特的作用，越来越受到人们的重视。

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荧光光谱分析仪

仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的较大尺寸要求为直径51mm，高40mm.

荧光寿命分析系统的支持参数

系统支持检测时间通道可设，设置范围1000到65000；时间分辨率可设置，设置范围32ps到500us；数据获取时间可设置，设置范围32ns到31.2s。可以通过SPCS分析软件各种参数进行设置，操作简单，使用灵活。系统可以选装一定波长的激发光源或者一定频率范围的电脉冲激发源来激发样品池里的样品以产生相应的荧光信号。系统触发可接入激光激发源或电脉冲激发源输出的同步信号，也可以使用系统内部生成的信号进行触发。系统可支持单色仪波长动态调整，通过软件调整单色仪的透射波长，可以动态筛选特定波长的光通过；系统默认配置为手动可调节狭缝，用于带宽的调节，可选配自动调节的狭缝，用于满足用户的更多应用需求。

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